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无损检测仪器
TOFD相控阵检测
名称:TOMOVIEW LITE OmniScan分析软件
编号:Pro2011813172451
规格:TOMOVIEW LITE
价格:优惠
厂商:研信通
时间:2011-8-13 17:28:09
购买:
TomoView™
简版主要用于分析
OmniScan®
数据的
TomoView
的版本。涵盖了
TomoView
的主要特点,如立体视图,合并视图和多组显示。带有功能强大的预置布局的简单界面使
TomoView LITE
成为很多应用的分析利器。
TomoView LITE
包括两个不同功能的版本:
TomoView LITE Weld
和
TomoView LITE Aero
,每个版本都提供最常用的分析特点,分别适用于焊接和航空航天行。
特点
支持所有的
OmniScan®
文件格式
(. opd and .oud)
和
TomoView™ (. rdt)
将多个数据文件融合到一个文件
用于多数典型应用的便利的预置布局图。布局可以自定义,保存和加载。
色彩调整
(
柔和度
.
增益和色彩范围
)
将多个数据融入到单一视图来显示(立体视图)
创建、保存和载入焊缝缺陷
强大的测量和统计工具
读数表格的编辑和创建
(
带有读数特色
)
嵌入的报告生成器
兼容常规超声、
TOFD
和相控阵数据
超声数据分析软件
报告
在
TomoView™ LITE
中创建报告时十分简单的
.
使用分区工具添加一个指针。选择适合你的读数模板,用附加的读数和注释定义。点击
add
Click.
重复所有相关的读数。
修改公司
LOGO
并添加具体的信息
(
操作人员的姓名,地点,零件等
)
的操作很简单,一个完整的
HTML
报告包括所有相关的检测
,
所有这些工作只需数秒就能完成。
完成以上工作后,读数表格就自动地保存在一个
.R01
的文件里,之后就会载入到
TomoView
中。
预定义布局
带有
A
扫、
S
扫和
C
扫视图的线性扫查
带有
A
扫,
D
扫和
D
扫视图的光栅扫查
带有
A
扫和
B
扫的
TOFD
检测
带有时差
C
扫、
B
扫、
A
扫和
D
扫视图的光栅扫查检测
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公司地址:北京市海淀区海淀南路13号亿方大厦808室 传真:010-62645994
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